同花顺（300033）金融研究中心7月17日讯，有投资者向西测测试（301306）提问， 公司采用算法图形和APG技术实现存储器地址自动累加、翻页功能，实现存储器数据的自动写入、输出比较，实现了对EEPROM、SRAM、NOR flash、NAND flash、EMMC等存储芯片读写擦除功能的自动测试，提升了存储芯片的测试效率。请问董秘是否属实？
公司回答表示，尊敬的投资者您好！上述情况属实。采用算法图形和APG技术可以提升相关器件的开发和测试效率。感谢您的关注！
![乙级测绘资质证书[乙测资字11513208]](https://img.hexun.com/chzzzs.jpg){kind=link}
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